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  材料晶体的晶粒在不同程度上围绕某些特殊的取向排列,就称为择优取向或简称织构。在x射线衍射测量中,为了表示晶粒的取向分布统计信息,人们采用极图来直观表示。极图就是将晶粒某一晶面{H,K,L}的法线在宏观坐标系中的空间取向进行极射赤道平面投影所得到的图,极图能反映材料的一部分取向信息。X射线衍射仪和5维转台组合,为材料及材料制品的织构测量提供可靠的检测方法。


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