服务热线:0415-6171977

薄膜分析
  X射线衍射对于研究外延层和其他薄膜材料具有特殊价值。采用精密的晶格参数的测量方法,可以很准确的确定晶格的外延层及其基底。在外延器件中晶格参数匹配或不匹配是一个重要因素如磁泡存储器的磁性石榴石薄膜,LED用掺杂砷化镓薄膜和高速晶体管和其他重要的电子产品。对于薄膜X射线衍射的另一个应用是使用高温衍射通过测定晶格参数随温度的变化来确定热膨胀系数。

重庆时时彩开奖记录网
新牛人配资 新浪体育比分直播 基金配资业务 江苏时时彩 股票行情今天大盘直播 私募基金配资利率 股票指数的计算公式 极速时时彩 正邦科技股票分析 多乐彩 益丰配资 短线股票推荐 46 湖北快3 十大正规配资平台 甘肃快三 股票指数期权与股票指数期货有哪些不同